一個典型的光纖光譜儀，包含內容如下：
光譜儀的解析度：
a：入射狹縫寬度
n：光柵刻線密度
m：衍射級次
i：入射角度
f：凹面鏡焦距
光纖光譜儀的評價標準：
1. 光譜範圍
可測量的波長範圍
2. 解析度
光纖光譜儀分辨兩相鄰譜峰的能力，以所測得的元素燈譜線的半高寬表示(通常用nm表示)
3. 暗雜訊
光譜儀在沒有接收任何環境光以及有效光譜情況下，因為電子雜訊、宇宙射線、熱雜訊以及電路自身設計產生的光譜標準差是光譜暗雜訊，光譜暗雜訊會受到溫度和積分時間的影響。
4. 波長準確性
分別測量不同波⾧段元素燈譜峰峰位，測量值與參考值的差值作為儀器在各波段的波⾧準確度。
5. 波長重複性
m：衍射級次
i：入射角度
f：凹面鏡焦距
光纖光譜儀的評價標準：
1. 光譜範圍
可測量的波長範圍
2. 解析度
光纖光譜儀分辨兩相鄰譜峰的能力，以所測得的元素燈譜線的半高寬表示(通常用nm表示)
3. 暗雜訊
光譜儀在沒有接收任何環境光以及有效光譜情況下，因為電子雜訊、宇宙射線、熱雜訊以及電路自身設計產生的光譜標準差是光譜暗雜訊，光譜暗雜訊會受到溫度和積分時間的影響。
4. 波長準確性
分別測量不同波⾧段元素燈譜峰峰位，測量值與參考值的差值作為儀器在各波段的波⾧準確度。
5. 波長重複性
在儀器的光譜範圍內連續測量三次，分別記錄不同波⾧段內譜峰的位置，計算各波段下最大值和最小值的差值(若光譜測試範圍內無多個特徵譜峰，則選取單個特徵譜峰進行三次測量，選取絕
對值最大的差值)，取最大的差值作為儀器的波⾧重複性。
6. 訊噪比
光譜儀的訊噪比定義為：光譜儀在強光照射下，接近飽和時的訊號的平均值與訊號偏離平均值的抖動值(以標準差橫向)的比。
對值最大的差值)，取最大的差值作為儀器的波⾧重複性。
6. 訊噪比
光譜儀的訊噪比定義為：光譜儀在強光照射下，接近飽和時的訊號的平均值與訊號偏離平均值的抖動值(以標準差橫向)的比。
方式㇐、訊噪比=訊號/雜訊的P-P值；方式二、訊噪比=訊號/雜訊的RMS值
資料來源:百度文庫特點：
1）訊噪比的定義依賴光源的穩定性；
2）方式㇐的多次測量結果差異較大，如何取值？
3）方式二的測量結果㇐致性較好；
4）使用RMS值計算的訊噪比㇐般是P-P值計算的5倍；
5）N次測量取平均的訊噪比是單次測量訊噪比的N^0.5倍。
在㇐定平均次數的條件下，訊噪比=訊號的飽和值/暗雜訊的RMS值
特點：測量方法的唯㇐性，結果的可比較性
範例：
在平均㇐次測量下訊噪比計算如下：S/N=65535/扣除背景後暗噪的RMS值
7. 動態範圍
選取穩定的光源，讀取光譜飽和訊號值作為最大訊號值，讀取設定測量積分時間暗雜訊平方平均數(RMS)。
動態範圍=(飽和值-基線)/暗雜訊RMS
可參考以下台灣如海的光纖光譜儀 MS11639規格參數：
 |
|
|
光學參數
|
|
|
光纖介面
|
Key-SMA905
|
|
狹縫
|
10μm、20μm、25μm、50μm、100μm、200μm
(可根據客戶需求定製) |
|
檢測器
|
CMOS檢測器
|
|
像素
|
2048 pixels
|
|
雜散光
|
~0.2‰
|
|
波長溫漂
|
0.1pixel/℃
|
|
光纖插拔一致性
|
≤7%
|
|
功能參數
|
|
|
AD採樣
|
16bit
|
|
資料介面
|
USB2.0、RS232
|
|
擴展功能介面
|
24PIN
|
|
採集模式
|
單次、連續、軟體觸發、同步外觸發、非同步重定外觸發
|
|
檢測器積分時間
|
50μs-65S
|
|
CCD讀出雜訊1
|
≤30
|
|
CCD 動態範圍2
|
3500:1
|
|
訊噪比
|
380:1
|
|
回應線性度3
|
≥98%
|
|
其他參數
|
|
|
Part No.
|
MS2000
|
|
重量
|
630g
|
|
尺寸
|
125×95×35mm
|
|
工作溫度
|
0℃~40℃
|
|
工作濕度
|
20%-85%
|
|
1. 積分時間10ms，CCD 讀出雜訊的均方根
2. CCD動態範圍為2ms積分時間情況 飽和值/CCD 讀出雜訊的均方根
3. 回應非線性度為校準之前
|
|